Portraits de l'exil Paris-New York : Dans le sillage d'Hannah Arendt
Facebook Twitter Pinterest Linkedin
Donnez votre avis

Portraits de l'exil Paris-New York : Dans le sillage d'Hannah Arendt

Auteur(s) : Fred Stein, Anne Egger, Barbara Cassin, Françoise Balibar, Alain Badiou

Editeur : Editions musée du Montparnasse

Parution : Novembre 2011
188 pages
ISBN : 979-1-0901-6705-6
Fiche consultée 22 fois
25,00 €
Commander
Du même auteur
Le mouvement et la théorie: Du politique en France aujourd'hui
L'établie: Aux origines de l'idéologie française du XXe siècle
Politiques du réel: Transformer l'impossible en possible
Topos: Logique de l'onto-logique
Pietrogrado, Shanghai. Le due rivoluzioni del XX secolo